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10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出先進探測器

  • 分類:公司新聞
  • 作者:
  • 來源:
  • 發布時間:2018-11-08 17:40
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【概要描述】2018年10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出了ASI出品的光子計數型高靈敏探測器相機,獲得了來自美國、英國、德國、瑞典、日本和香港等國家和地區的專家學者的好評和青睞;由于出色的性能指標及其在低能電子顯微鏡(LEEM)、光電子顯微鏡(PEEM)領域的廣泛的應用前景,不斷有興趣客戶前來展臺咨詢洽購。

10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出先進探測器

【概要描述】2018年10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出了ASI出品的光子計數型高靈敏探測器相機,獲得了來自美國、英國、德國、瑞典、日本和香港等國家和地區的專家學者的好評和青睞;由于出色的性能指標及其在低能電子顯微鏡(LEEM)、光電子顯微鏡(PEEM)領域的廣泛的應用前景,不斷有興趣客戶前來展臺咨詢洽購。

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覃思

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  2018年10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出了ASI出品的光子計數型高靈敏探測器相機,獲得了來自美國、英國、德國、瑞典、日本和香港等國家和地區的專家學者的好評和青睞;由于出色的性能指標及其在低能電子顯微鏡(LEEM)、光電子顯微鏡(PEEM)領域的廣泛的應用前景,不斷有興趣客戶前來展臺咨詢洽購。

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